2018年6月8日上午，清华大学材料学院北京电子显微镜中心钟虓䶮副教授应邀来我校开展学术交流，在综合实验楼三层学术沙龙作了题为《Atomic scale magnetic and structural imaging by achromatic electron microscopy》的学术报告。报告由我校副校长、材料科学研究院院长许小红教授主持，研究院全体师生聆听了此次报告。

钟教授首先介绍了目前广泛应用的几种磁成像技术，如中子衍射、X射线磁圆二色谱、电子全息等，可以实现自旋构型微米或纳米尺度的成像分辨率。随后，他指出当今材料科学研究的迅猛发展，实现自旋构型原子尺度成像表征，是理解、预测与调控磁性材料物理性质的必然趋势。他们研究团队经过多年的努力，最新开发出了一种定量电子磁圆二色谱(EMCD)技术，结合色差校正与空间分辨电子磁圆二色谱技术，可以突破性地实现逐层原子面的自旋构型成像，定量测量原子尺度的轨道自旋磁矩比，在原子尺度上同时测量材料的结构、成分和磁矩。他们已经将该技术成功地应用于铁氧体、钙钛矿、合金等体系的原子尺度自旋构型表征，对于在原子尺度理解自旋、晶格、轨道、电荷等多个自由度的结构参量与材料磁性能之间的相互关联具有重要价值，目前该技术已受到国内外学术界的普遍关注。报告结束后，钟虓䶮副教授耐心解答了师生们的有关问题，就相关研究课题与我院部分师生进行了深入讨论与交流，并对关键技术方案给予指导和建议。

我校副校长、材料科学研究院院长许小红教授主持报告会

钟虓䶮副教授作报告